Diffraktogramm
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In Diffraktogrammen sind die bei diffraktometrischen Verfahren gemessenen Strahlungsintensitäten gegen den Winkel zwischen Strahlungsquelle, Probe und Detektor (2-theta-Winkel) aufgetragen. Dieser Winkel wird im Verlauf der Messung variiert. Das Messergebnis ist in der Regel eine flache Kurve mit mehreren schmalen Peaks, die bestimmten Gitternetzebenen kristalliner Feststoffe in der Probe entsprechen.
Anhand der Lage der Peaks können nach der Bragg-Gleichung die Netzebenenabstände der in der Probe enthaltenen Kristalle und somit die verschiedenen kristallinen Phasen, denen sie angehören, bestimmt werden. Die Rietveld-Analyse, ein Modellierungsverfahren, das in der Röntgendiffraktometrie angewandt wird, ermöglicht die Berechnung der Volumenanteile der einzelnen kristallinen Feststoffe in der Probe aus der relativen Höhe der Peaks. Demnach können Diffraktogramme die Grundlage einer qualitativen und quantitativen Phasenanalyse sein.
Diffraktogramme, die auf Messungen an derselben orientierten Probe mit unterschiedlichem Bestrahlungswinkel beruhen, können bei gleichem 2-theta-Winkel Unterschiede in der Länge der jeweiligen Peaks zeigen. Diese Unterschiede treten auf, wenn die Kristalle in der Probe Vorzugsorientierungen aufweisen, d.h. die Probe texturiert ist.
