Diskussion:Rasterkraftmikroskop
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Hallo, im Bereich der dünnen Schichten kommt immer häufiger der Begriff "Nanoindentation", meiner Meinung nach AFM mit einer sehr feinen Nadel im Kraft-Abstands-Kurven-Modus. Liege ich da richtig? Gruß nikite
Und wer hat's erfunden? Die Schweizer? Nein, Rohrer war nicht an der Erfindung des AFM beteiligt! --193.159.119.242 23:51, 3. Mär 2004 (CET)
Blattfeder = Cantilever. JA das Englische Wort Cantilever heisst ja auch freitragender Arm. Also ist das jetzt eine Binsenweissheit ?
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[Bearbeiten] C-AFM
Hallo, im Rahmen meines Studiums befasse ich mich im Moment. Mit dem RKM. Mir ist aufgefallen das bei dem Contact Mode es noch eine unterteilung in constant height mode und constant force mode unterschieden wird. Mir ist klar wie diese beiden Methoden funktionieren (ähnlich wie CCM und CGM beim Rastermikroskop. Sollte man die beiden Methoden dann nicht auch noch hinzufügen? --Krema 14:33, 12. Mai 2005 (CEST)
So die unterschiedlichen Methoden des Contact Modus hab ich hinzugefügt, bei genauer Betrachtung des Artikels sind mir noch ein paar Strukturschächen aufgefallen, so stell ich mal die Frage auf ob das LFM nicht ein weiterer Unterpunkt des Kontakt Modus sein müsste.
Außerdem ist mir noch aufgefallen das ein Kompletter betriebsmodus fehlt, der Intermittent-contact Mode (auch Tapping Mode genannt) welcher im Prinzip eine Kombination aus Conatct und Non-contact Mode ist. Auch werd ich schon mal schaun wie ich das LFM bei den Betriebsmodi integrieren kann. Ich werde das die Tage hinzufügen und mal schaun wie die Reaktion darauf sind. Über Feedback zu meiner ersten richtigen Ergänzung bei Wikipedia würd ich mich freun.--Krema 16:05, 12. Mai 2005 (CEST)
- Hallo Krema, das war ein sinnvoller Beitrag! Ich habe noch ein bißchen was daran verändert. Schreib doch ruhig mal was zu den anderen Modi, das kann dann immer noch verbessert werden. --TdL 09:15, 13. Mai 2005 (CEST)
[Bearbeiten] Kraftmessungen
Kann man mit einem RKM nicht auch Kräfte messen? Also, mit der Nadel irgendwo drauf drücken und dann schauen, wie doll eine Probe eingedrückt wird?
- Ja, kann man. Der entsprechende Absatz im Artikel ist Betriebsmodi/Kraft-Abstands-Kurven. Der könnte allerdings durchaus mal ein wenig ausgebaut werden.
- Übrigens: Diskussionsbeiträge bitte mit Benutzernamen signieren.
- -- Barbarossa | ∞ 10:57, 6. Okt 2005 (CEST)
[Bearbeiten] Kommerzielle links
Haben links auf Herstellerseiten hier etwas zu suchen? Ich meine nicht, aber wenn doch, sollte die liste wenigstens komplett sein (dies dürfte schierig sein).
[Bearbeiten] keine URV im Abschnitt CFM
Ich habe die Änderungen zur CFM rückgängig gemacht, da abschnittweise ein identischer Text auf der Seite [1] zu finden ist. Wenn Sie (IP: 217.80.76.55 oder IP: 217.80.93.2) der Urheber des entsprechenden Textes sein sollten, erklären Sie bitte hier auf der Diskussionsseite, daß Sie den Text unter den Bedingungen der GPL lizensieren.
--Barbarossa | ∞ 15:40, 9. Mär 2006 (CET)
Es handelte sich bei dem Text um Auszüge eines Artikels der Firma NanoCraft welcher bei Labor und Praxis veröffentlicht wurde. Ich (Michael Korte, korte@nanocraft.de) als Mitauthor lizensiere diesen Text nach den Bedingungen der GPL, was auch immer das bedeuten mag.
--217.80.66.152 12:43, 14. Mär 2006 (CET)
[Bearbeiten] Blattfeder, Cantilever, Spitze, Tip, Chip
Im Anfang des Artikels kommt es entweder zu einer beliebten Verwechslung der o.g. Begriffe, oder es ist nur unglücklich ausgedrückt. Deshalb hier der Hinweis: An einem Chip (makroskopische Größe (ca. 3 X 1 mm²), meißt aus Si) ist ein Cantilever (Blattfeder) (Länge ca. 100µm (aber sehr unterschiedlich)) und an dem ist die Tip (Spitze) (verschiedene Geometrien, die hinterher auch über die Auflösung entscheiden, Stichwort Aspect Ratio), die eigentlich über die Probe gerastert wird.
Was die Anmerkung angeht, ob Herstellerlinks hier etwas verloren hätten würde ich in dem Sinne zustimmen, dass dort immer auch sehr gute Einführungen und weitere Literaturstellen zu verschiedensten SPM Themen zu finden sind.
mfg Felix Wählisch
[Bearbeiten] Entfernung der Herstellerlinks
Die Hersteller Links sind nützlich und nötig, da es eine Vielzahl von verschiedenen AFM-Versionen gibt. Die jeweiligen Mikroskope wurden größtenteils auf spezielle Bereiche optimiert z.B. AFM im UHV, Digitale Pulsed Force Mikroskopie oder die AFM-Raman Kombination. Dies alles auszuführen würde den Rahmen der WP sicherlich sprengen. Deshalb halte ich die Herstellerlinks für sinnvoll. Des weiteren wurden auch andere Links mit kostenloser AFM-Auswertesoftware und einer verdeutlichenden Animation zur CFM entfernt. Seltsamerweise blieb ein einzelner Herstellerlink erhalten "ntmdt", ein Schelm wer böses dabei denkt.
Aus oben genannten Gründen und weil ich einiges an dem Artikel geschrieben und 2 der zugehörigen Grafiken erstellt habe setzte ich die vorgenommene Löschung wieder zurück.
Michael Korte NanoCraft
- Hallo Michael, es gibt hier in der Wikipedia gewisse Konventionen zu Weblinks, siehe WP:WEB, die bisher hier geführten fallen da eindeutig nicht drunter. Wenn du einen Weblink bieten kannst, der neutral alle namhaften Hersteller und Software auflistet, könnte man ihn sicher hier aufnehmen. Alles andere führt zu ausufernden Listen und ist hier nicht erwünscht. Das du viel zu diesem Artikel beigetragen hast, ist sehr lobenswert, gibt dir aber keine Sonderrechte. Nichts für ungut. --TdL 16:43, 2. Jun 2006 (CEST)
- Als Beispiel hätte ich hier [2] zu bieten. --TdL 16:49, 2. Jun 2006 (CEST)
Hallo TdL, von Sonderrechten war keine Rede sondern von einer Gleichbehandlung bzw. Nützlichkeit von Links. Oder sind Sie ein Fan von russischen AFMs (NTMDT)? Auch nach Durchsicht der WP Konventionen kann ich Ihrem Argument nicht folgen. Die bisherige Liste war nicht ausufernd und die jeweilig verfügbaren Informationen für eine intensive Einarbeitung in das Thema AFM äußerst hilfreich. Wie auch die Hinweise auf KOSTENLOSE Analysesoftware, dabei wird mir jeder Diplomand zustimmen, nicht unnötig sind. MFG Michael Korte
- Hallo Michael, so schwer sollte es nicht fallen, die entsprechende Konvention zu finden. Ich zitierere aus Wikipedia:Weblinks#Allgemeines, siehe auch Wikipedia:Was Wikipedia nicht ist:
- Die goldene Regel der Wikipedia zum Thema Weblinks ist: Bitte vom Feinsten. Nimm nicht irgendwelche Links zum Thema, sondern wähle das Beste und Ausführlichste aus, was im Netz zu finden ist. Fünf externe Links sollten nach Ansicht vieler in der Regel zu einem Thema genügen (Literatur- und Quellenangaben ausgenommen). Wikipedia ist eine Enzyklopädie und keine Linksammlung. Auf keinen Fall sollten die Weblinks für das Verständnis des Artikels nötig sein. Artikel in einer Enzyklopädie sollen für sich selbst sprechen und keine externen Erklärungen benötigen. Müssen Begriffe erläutert werden, geschieht dies durch Links auf geeignete Artikel in der Wikipedia. Vereinfachte oder anschauliche Aufbereitungen sind z.B. bei mathematischen Themen durchaus nützlich.
- Dem ist wohl nichts hinzuzufügen. Was die russische Firma angeht, die erste unvollständige Löschung der Weblinks habe nicht ich durchgeführt, folglich bin nicht ich der Adressat dieses Vorwurfes. Gerne darfst du diesen Link auch selbst entfernen, wenn du einen Wettbewerbsvorteil dieser Firma gegenüber der deinen siehst.
- Ob jetzt kommerziell oder nicht, eine Liste freier Software gehört wohl nicht hierher, dies ist eine Enzyklopädie. Gerne kannst du versuchen, einen Artikel über Analysesoftware für SPM schreiben, und dort ein paar Beispiele aufzählen. Vielleicht bleiben diese bestehen.
- Wer als Diplomand erst in der Wikipedia über sein Diplomthema nachlesen muß, hat prinzipiell ein Problem. Zumindest sollte er oder sie und jeder andere Benutzer dieser Geräte andere Quellen des Wissens zu nutzen gelernt haben, z.B. auch Google. Die anderen Wikipedia-Leser interessiert diese Liste freier Spezial-Software jedenfalls nicht. --TdL 19:35, 2. Jun 2006 (CEST)
[Bearbeiten] Weitere Methode
Waere es sinnvoll auch noch die "Scanning voltage microscopy" (en:Scanning_voltage_microscopy) einzubinden?
(Der vorstehende, nicht signierte Beitrag stammt von 142.103.140.47 (Diskussion • Beiträge) 21:01, 20. Feb 2007 (CEST)) -- TdL 09:06, 21. Feb. 2007 (CET)
[Bearbeiten] Einleitung überarbeitet
Ich habe gerade den Absatz der Einleitung weitgehend überarbeitet und den größten Teil in einen neuen Absatz integriert. Das alles hätte man nur verstanden, wenn man diese oder ähnliche Rastensonden-Techniken ohnehin schon kennt. Ganz zufrieden bin ich aber immer noch nicht. --TdL 14:24, 23. Feb. 2007 (CET)
- An sich hab ich nichts gegen die Umarbeitung. Allerdings denke ich, dass die Aussage es würden die Blattfederverbiegungen zur Bilderzeugung benutzt zu sehr vereinfacht. Der am weitesten verwendete Betriebsmodus ist schon mit Regelkreis, sodass die Topografieinformationen in der Regel nicht im Signal der Verbiegung enthalten sind. --Barbarossa | ∞ 12:57, 25. Feb. 2007 (CET)
Da hast du völlig recht, nur wäre das für die Einleitung viel zu kompliziert und weiter hinten wird es ja erklärt. Und erwähnt sollte ja schon werden, daß die Kraft über die Auslenkung den Wert des Bildpunktes ergibt. Ob über die tatsächliche Verbiegung oder die resultierende Änderung des Abstandes aufgrund eines Regelkreises spielt eigentlich keine so große Rolle für ein grobes Verständnis der Methode. Zumindest wird in den Löschdiskussionen immer gefordert, daß zumindest die Einleitung für eine fiktive Oma verständlich sein muß. --TdL 13:17, 25. Feb. 2007 (CET)
- ok --Barbarossa | ∞ 19:16, 25. Feb. 2007 (CET)
[Bearbeiten] Typische Kräfte?
Könnte jemand vielleicht in einem der oberen Absätze einen Zahlenwert bzw. einen Bereich für typisch auftretende bzw. messbare Kräfte nennen, womöglich sogar mit Quelle? Immerhin handelt es sich ja um ein Kraftmikroskop. Selbst habe ich leider keine Literatur mehr zur Hand. --TdL 09:17, 15. Mär. 2007 (CET)
