X-ühik
Allikas: Vikipeedia
x-ühik (tähis X, ka: xu) ehk siigbaan on mittesüsteemne pikkusühik, mida alates 1920ndatest kasutati röntgenikiirguse ja gammakiirguse lainepikkuse väljendamiseks ning kristallivõre konstantide avaldamiseks.
Ühiku defineeris 1925 rootsi füüsik kaltsiidi kristallipindade vahelise kauguse kaudu 18 °C juures. Selle kauguse kõige täpsem hinnang oli tollal 302,945 pm. See kaugus loeti täpselt võrdseks 3029,45 X-ga, nii et x-ühiku ligikaudseks väärtuseks tuli 0,1 pm.
Hiljem selgus, et 1 X · 1,00206 10-13 = 0,10026 pm = 100,206 fm.
Aastal 1965 hakati x-ühiku asemel kasutama ongströmit (Å), mis võrdub 100 pikomeetri ehk 0,1 nanomeetriga.
On defineeritud ka vase x-ühik ja molübdeeni x-ühik.
Vase x-ühiku (xu(CuKα1)) puhul loeti vase Kα1-spektrijoone lainepikkuseks täpselt 1537,400 x-ühikut. See andis x-ühiku väärtuseks 1,00207789×10-13 ± 7,0×10-20 m.
Molübdeeni x-ühiku (xu(CuKα1)) puhul loeti molübdeeni Kα1-spektrijoone lainepikkuseks täpselt 707,831 x-ühikut. See andis x-ühiku väärtuseks 1,00209938×10-13 ± 4,5×10-20 m.
