Image:Jean-Michel Jarre in Warsaw.jpg
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en: Jean-Michel Jarre giving autographs in the EMPiK Megastore Nowy Świat during his visit in Warsaw, 3rd August 2005. Photo made by Katarzyna Średnicka, 2005 ©.
pl: Jean-Michel Jarre rozdaje autografy w EMPiK Megastore Nowy Świat w czasie swojej wizyty w Warszawie, 3 sierpnia 2005. Zdjęcie wykonane przez Katarzynę Średnicką, 2005 ©.
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Métadonnées
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| Fabricant de l’appareil | FUJIFILM |
|---|---|
| Modèle de l’appareil | FinePix S5500 |
| Orientation | Normal |
| Résolution de l’image en largeur | 72 dpi |
| Résolution de l’image en hauteur | 72 dpi |
| Logiciel utilisé | Adobe Photoshop CS2 Windows |
| Date et heure de changement du fichier | 4 août 2005 à 00:38 |
| Position YCbCr | 2 |
| Temps d’exposition | 1/125 sec (0.008) |
| Focale | f/3.1 |
| Programme d’exposition | Programme normal |
| Sensibilité ISO | 100 |
| Version exif | 2.2 |
| Date et heure de la génération de données | 3 août 2005 à 06:26 |
| Date et heure de numérisation | 3 août 2005 à 06:26 |
| Mode de compression de l’image | 4 |
| Vitesse d’obturation | 7 |
| Ouverture | 3.3 |
| Luminosité | 1.38 |
| Correction d’exposition | 0 |
| Champ d’ouverture maximal | 3 |
| Mode de mesure | Pattern |
| Source de lumière | Inconnue |
| Flash | 25 |
| Longueur de focale | 22.2 mm |
| Espace colorimétrique | sRGB |
| Résolution X focale plane | 4255 |
| Résolution Y focale plane | 4255 |
| Unité de résolution de focale plane | 3 |
| Méthode de détection | One-chip color area sensor |
| Traitement d’image personnalisé | Procédé normal |
| Mode d’exposition | Exposition automatique |
| Balance des blancs | Balance des blancs automatique |
| Scene capture type | Standard |
| Netteté | Normale |
| Distance du sujet | Inconnu |
