Test Binet-Simon
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Le Binet et Simon est un test d'intelligence datant de 1905 et mis au point par les docteurs et psychologues français Alfred Binet et Théodore Simon.
Il a pour but de détecter les élèves en difficulté dans les jeunes classes. Ce test est à l'origine du concept d'âge mental, repérage d'un âge de développement en regard d'acquisitions intellectuelles attestées chez plus de 75 % des enfants d'un âge donné.
Cet âge mental ne doit pas être confondu avec le quotient intellectuel (QI), repérage de performances d'un enfant ou d'un adulte en regard des performances d'un échantillon de personnes du même âge, échantillon statistique élaboré à partir d'épreuves dont les résultats se dispersent en courbe de Gauss.
