Atomic force microscopie
Van Wikipedia
Atomic force microscopie (AFM) is een techniek om net als bij scanning tunneling microscopie met een naald het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn. In plaats van een tunnelstroom die constant wordt gehouden meet de AFM het doorbuigen van een bladveer (cantilever) en corrigeert die zodat de naald een constante kracht van het oppervlak van het object ondervindt.
Het is niet eenvoudig om de minuscule doorbuigingen van het bladveertje te meten. In de eerste AFM's werd de doorbuiging gemeten met hulp van een mechaniek als uit een scanning tunneling microscoop die bovenop het bladveertje werd gemonteerd. Later werd dit vervangen door een laser-interferometer.
De atomic force microscoop kan niet alleen worden gebruikt om het oppervlak te bestuderen, maar ook om het te beïnvloeden: men kan moleculen op het oppervlak van het object manipuleren door gebruik te maken van de naald van de microscoop.
Inhoud |
[bewerk] Cantilever
De cantilever is gemaakt uit silicium en is nog net met het blote oog zichtbaar. De eigenlijke naald die aan het uiteinde van de cantilever het oppervlak aftast kan je niet zien. De afbuiging is proportioneel aan de uitgeoefende kracht: 
(zie wet van Hooke).
[bewerk] Modes
Deze opstelling kan op verschillende manieren toegepast worden: - constante kracht (contact mode) - oscillatie (tapping mode)
