Soft Error
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Als Soft Error bezeichnet man in der Informatik einen Fehler in einem Speichermedium. Dabei "kippen" einzelne Bits im Speicherbaustein, d. h., sie ändern unvorhersehbar ihren Wert. Ursache sind meist äußere Einflüsse wie kosmische oder andere ionisierende Strahlung, magnetische Felder oder elektromagnetische Strahlung. Aber auch Fertigungsfehler können die Ursache für einen solchen Fehler sein.
Bei Speicherbausteinen bezeichnet die Soft-Error-Rate (SER) das Auftreten von Fehlern. Moderne Speicher haben eine SER von weniger als 1 Fehler in 1.000 Jahren, zu Beginn des Computerzeitalters lag sie noch bei einigen Stunden. Um die Fehleranfälligkeit eines Bausteins zu testen, ermittelt man die Accellerated Soft Error Rate (ASER), wobei man durch extreme ionisierende Bestrahlung die SER erhöht.
[Bearbeiten] Gründe für Soft Errors
Ein Grund für Soft Errors ist der radioaktive Zerfall des Gehäusematerials eines Chips. Bei diesem Zerfall werden Alpha-Teichen frei. Diese positiv geladenen Teilchen können das kurzzeitige Kippen einer Logik hervorrufen. Im Falle von kombinatorischer Logik, sogar einen permanenten Wechsel eines Zustands.
Ein weiterer Grund ist die kosmische Strahlung.
