Chemische Kraftmikroskopie
aus Wikipedia, der freien Enzyklopädie
Die Chemische Kraftmikroskopie (engl. Chemical Force Microscopy; Abkürzung CFM) ist eine Abwandlung 1986 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelten Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, AFM) zur mechanischen und chemisch sensitiven Abbildung von Oberflächen auf Nanometerskala. Dazu wird, anstelle einer klassischen AFM-Spitze, eine chemisch einheitlich modifizierte Sondenspitze zur Abbildung genutzt. Unter gleichzeitiger Verwendung eines Abbildungsmediums, zum Beispiel Wasser oder Hexadekan, treten nur ganz spezifische Wechselwirkungen zwischen Spitze und Oberfläche auf, wodurch die hohe chemische Spezifität der Abbildung erzielt wird. Die chemische Sensitivität bei gleichzeitiger Hochauflösung macht die Chemische Kraftmikroskopie zu einem einzigartigen Werkzeug der Oberflächenforschung mit großem Entwicklungspotential.
[Bearbeiten] Weblinks
- NanoCraft - Animation zur CFM, Anbieter von CFM-Messungen und Equipment
- Veeco Instruments - Hersteller von Rasterkraftmikroskopen
