Constante de réseau
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En cristallographie, la constante de réseau (souvent notée a) définit la distance entre atomes dans les réseaux cristallins. C'est un indicateur de compatibilité structurelle entre différents matériaux.
Les constantes de réseau sont mesurées en nanomètres, et peuvent différer selon les axes de la structure cristalline pour les cristaux non-cubiques.
L'adaptation de la constante de réseau est importante pour la croissance de couches minces de matériaux sur d'autres. Lorsque les deux constantes sont trop différentes, la couche subit des contraintes provoquant des défauts cristallins dans les couches épitaxiées.
L'adaptation de maille, c'est à dire la compatibilité de structure cristalline entre deux matériaux semi-conducteurs, permet de changer localement la bande interdite (gap) sans modifier la structure cristalline. Cette particularité rend possible la construction de diodes électroluminescentes et de diodes laser (par exemple les VCSEL).
Ainsi, l'arséniure de gallium, l'arséniure de gallium-aluminium et l'arséniure d'aluminium ont des constantes de réseau très proches ; cela rend possible la croissance et l'empilement de couches épitaxiées non contraintes.
Les constantes de réseau peuvent être déterminées par diffraction de rayons X.
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